膜厚均匀性预测模型微调（试点）

面向显示与光学镀膜环节的工艺试点。以甲方的工艺参数与对应膜厚测量数据为基础,微调一版预测模型,输入一组工艺参数即给出膜厚分布与均匀性的预估,帮助在试片前先做参数初筛,少烧几片基板。交付含模型权重、调用脚本与留出集误差报告;按一个镀膜工艺窗口一口价,跨工艺或跨设备另报。预测仅在训练覆盖的参数范围内有参考价值,超出范围需补数据再训;任何参数上机前仍需实测验证。模型是缩短试错的辅助,不替代工艺判断,也不对未经验证的参数直接量产负责。数据在甲方约定环境内处理。