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显示驱动 IC 良率数据分析咨询

针对你提供的测试与良率数据,做关联分析找出影响良率的关键工艺因子,给出可验证的改善假设清单。

良率分析数据归因工艺改善
面向显示驱动相关的封测与模组团队。基于甲方提供的测试参数与良率数据,做相关性与分组对比分析,定位与良率波动最相关的几个工艺或物料因子,把模糊的怀疑变成可在产线上验证的假设。 交付一份分析报告,逐条列出疑似关键因子、支撑数据与建议的验证实验设计,并坦诚标注样本量不足或混杂导致的不确定之处。按分析工时计费。 做的是数据层面的归因辅助,不替代工艺工程师的机理判断;给出的都是待验证假设而非定论,需经产线小批量实验确认。数据在甲方授权范围内处理,结项后按约定不留存。